Como calcular barrera Schottky semiconductor metal-Si
Calcula barrera Schottky phi_B = phi_M - chi_S junction metal-semiconductor Si GaAs GaN. Diodos Schottky MOSFET solar photovoltaic RF. Walter Schottky Alemania 1886-1976 + Mott 1938. CIEMAT + UPC + Indra electronics.
Reportar un error de cálculo
Ayúdanos a mejorar. Describe qué no cuadra en el cálculo.
Resultado
| Voce | Valore |
|---|
Mostrar detalles completos
Compartir resultado
Aviso: este cálculo tiene valor puramente indicativo. Para decisiones importantes, consulta a un profesional cualificado.
Como calcular la barrera Schottky (phi_B) propiedad fundamental junction metal-semiconductor electronica semiconductores: phi_B(n-type) = phi_M - chi_S n-type; phi_B(p-type) = E_g - phi_B(n) p-type. phi_M work function metal eV (Al 4.28; Cu 4.65; Au 5.1; Pt 5.65); chi_S electrón affinity (Si 4.05; GaAs 4.07; GaN 4.1; SiC 3.7); E_g bandgap (Si 1.12; GaAs 1.42; GaN 3.4; SiC 3.26).
Modelo Mott-Schottky 1938: phi_B = phi_M - chi_S ideal + Bardeen 1947 Fermi pinning real ~ 2/3*E_g.
Densidad corriente saturación Richardson: J_s = A**T^2*exp(-phi_B/kT) + A** = 1.2e6 A/m^2/K^2 Si + Bethe 1942.
I-V Schottky diodo: I = I_s*(exp(qV/(nkT))-1) + n ideality 1.05-1.5.
Tipos contacto: ohmic phi_B1 eV power rectifier.
Numeros relacionados: V_bi built-in; W depletion width; Richardson A; image force lowering; tunneling TFE.
Aplicaciones: Schottky diodes 1N5817 power; SiC 600V 1200V; GaN HEMT power; MOSFET source/drain; solar cells photovoltaic; PtSi infrared detectors; RF mixers HF VHF UHF. Historia: Walter Hermann Schottky (Zurich 1886 - Pretzfeld 1976) Wurzburg + Berlin Siemens + Rostock 1927-1958; 1938 Phys Z 41:570 'Halbleitertheorie der Sperrschicht' classico Schottky barrier + 1914 shot noise + 1916 photodetector + 1923 Schottky barrier diode + Schottky diode eponym + Werner Schottky Institute TU Munich.
Nevill Mott (UK 1905-1996) Cambridge Cavendish 1954-1971; 1938 Proc Cam Phil Soc 34:568 classico Mott-Schottky + 1949 Mott transition + Premio Nobel Física 1977 con Anderson Van Vleck.
John Bardeen (1908-1991) Bell Labs + UIUC; 1947 Phys Rev 71:717 classico Fermi pinning + 1947 transistor + 1957 BCS + Doppio Premio Nobel 1956 + 1972 only 2 Nobel Physics.
Hans Bethe (1906-2005) Cornell; 1942 MIT Radiation Lab + Manhattan + Premio Nobel 1967.
Simon Sze (Taiwan-USA 1936-2023) Bell Labs; 1969 'Physics of Semiconductor Devices' 1st + 3rd 2007 Wiley 832 pages classico. Legado: Sze-Ng 2007 + Yu-Cardona 2010 + Streetman-Banerjee 2014 + Pierret 1996 + Tu-Mayer-Feldman 2003 + Tung 2014.
España investigación: CSIC IMB-CNM Barcelona 11000 + Si Schottky; CSIC ICN2 Bellaterra 280; CIEMAT 1300; BSC Barcelona 1100; INTA Madrid 1500; Tecnalia 1500; BIST Barcelona 200; ICFO Castelldefels 400; IFAE Barcelona 200.
Universidades: UPC Barcelona 30000; UPM 38000; UCM 80000; UAM 30000; UC3M 22000; UAB 35000; UB 60000; Sevilla 65000; Granada 60000; UPV/EHU 47000.
Industria semiconductor: X-Fab Spain 200; Indra 56000; GMV 3300; Sener 2400.
Solar PV: Iberdrola 39000; Acciona Energía 11000; Endesa 9700; EDP Renovaveis 4000.
RF defensa: Indra 56000 radar Schottky; GMV 3300; Sener 2400; Hisdesat 200.
EV automotive Schottky: SEAT Martorell 14000; Renault España 6500; Mercedes Vitoria 5500; Iberdrola 39000 EV charging.
Formula Schottky
n-type: phi_B(n) = phi_M - chi_S; p-type: phi_B(p) = E_g - phi_B(n); J_s = A**T^2*exp(-phi_B/kT).
Valores tipicos: Au-nSi 1.05 eV; Al-nSi 0.23 eV ohmic; Pt-nGaAs 1.58 eV; Au-pSi 0.07 eV; Al-nGaN 0.18 eV.
Historia y contexto
Walter Schottky (1886-1976) Wurzburg + Berlin Siemens + Rostock 1927-1958; 1938 Phys Z 41:570 classico Schottky barrier + Schottky diode eponym.
Nevill Mott (1905-1996) Cambridge Cavendish; 1938 Mott-Schottky theory + Premio Nobel 1977.
John Bardeen (1908-1991) UIUC; 1947 Fermi pinning + transistor + BCS + Doppio Premio Nobel 1956 + 1972.
Hans Bethe (1906-2005) Cornell; 1942 thermionic emission + Premio Nobel 1967.
Simon Sze (1936-2023) Bell Labs; 1969 Wiley classico textbook. Legado: Sze-Ng 2007 + Yu-Cardona 2010 + Streetman-Banerjee 2014 + Tung 2014.
España investigación: CSIC IMB-CNM 11000; CSIC ICN2 280; CIEMAT 1300; BSC 1100; INTA 1500; Tecnalia 1500; BIST 200; ICFO 400; IFAE 200.
Universidades: UPC 30000; UPM 38000; UCM 80000; UAM 30000; UC3M 22000; UAB 35000; Sevilla 65000.
Semiconductor: X-Fab Spain 200; Indra 56000; GMV 3300.
Solar PV: Iberdrola 39000; Acciona Energía 11000; Endesa 9700.
RF defensa: Indra 56000; GMV 3300; Sener 2400.
EV automotive: SEAT 14000; Renault 6500; Iberdrola 39000.
Tabla Schottky
- phi_B(n) = phi_M - chi_S
- phi_B(p) = E_g - phi_B(n)
- J_s = A**T^2*exp(-phi_B/kT)
- Au-nSi: 1.05 eV
- Al-nSi: 0.23 eV ohmic
- Bardeen pinning: 2/3*E_g
5 ejemplos numericos
- Au-nSi: 1.05 eV high rectifier.
- Al-nSi ohmic: 0.23 eV.
- Pt-nGaAs: 1.58 eV.
- Au-pSi: 0.07 eV ohmic p-type.
- Al-nGaN power HEMT: 0.18 eV.
Limitaciones
Mott-Schottky ideal + Bardeen pinning + Image force + Tunneling TFE + Surface states + Temperature.
Errores comunes
- n-type vs p-type signo.
- Mott-Schottky vs Bardeen.
- Ohmic vs Schottky.
- Richardson constant.
- Image force lowering.
Aplicaciones
- SiC Schottky power: Indra electronics + automotive SEAT.
- MOSFET source/drain: X-Fab Spain.
- Solar PV: Iberdrola + Acciona Energía.
- RF mixers: Indra + GMV radar.
- GaN HEMT:.
- Infrared: classical PtSi.
- Solar HJT: Iberdrola HJT.
- EV battery: Iberdrola charging.
- Mott-Schottky capacitance: doping concentration.
- QD contacts: classical.
Actualizado a julio de 2026
Comentarios (0)
Accede para dejar un comentario.
Sin comentarios aún. ¡Sé el primero!